Автор:

Дворкин В.И.

Год издания:

2001

Место издания:

Москва

Издательство:

Химия

Объем:

263 с.

Раздел:

Аналитическая химия

Индекс УДК:

543

Дисциплины:

Метрология, стандартизация, сертификация (ВАЭиВТ)
Метрологическое обеспечение технологических процессов_ (ВТО)
Метрология, стандартизация и сертификация_ (ВТО)

Аннотация:

Нет.